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標準簡介：本標準規(guī)定了半導體集成電路模擬鎖相環(huán)電參數測試方法的基本原理。模擬鎖相環(huán)與數字電路相同的靜態(tài)和動態(tài)參數測試可參照GB3439《半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》。
標準號：GB/T 14031-1992
標準名稱：半導體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理
英文名稱：General principles of measruing methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現行
發(fā)布日期：1992-01-02
實施日期：1993-08-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>微電路>>L55微電路綜合
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.200集成電路、微電子學
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家技術監(jiān)督局
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